联系我们
|
地 址:北京市广安门南滨河路25号A座802 |
邮 编:100055 |
联系人:王芳 |
电 话:13811772240 |
传 真:010-63326024 |
邮 箱:summer@jwgb.net |
|
|
|
|
|
|
公司名称:
北京精微高博科学技术有限公司
|
参考价格:
未标明
|
发布时间:
2012-12-24
|
产品描述: |
JW-K型氮吸附比表面及孔径分布分析仪一、技术参数测量原理: 动态常压连续氮吸附法(国内首创)气体: 高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%)气体流量: ≤100mL/min流量控制: 稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1%测量压力: 常压氮气相对压力:调节范围 0.05-0.98 |
|
|
|
|
|
JW-K比表面及孔径分布仪的详细介绍
主机功能: (1)吸(脱)附等温曲线测定
(2)孔径分布测定
(3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值
(4)比表面积快速测定(直接对比法)
测定范围: (1)孔径:2nm~200nm (2) 比表面:0.1~3500㎡/g
测量重复精度:≤±3%
测试时间: (1)BET比表面:平均每个样品30分钟
(2)孔径分布:平均每个样品3~4小时
(3)数据采集:恒流电路,气体浓度传感器工作站,放大及滤除杂波系统,采集速度100次/秒。
|
|
|
|