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| 平板检定与测量300问 |
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书 名 |
平板检定与测量300问 |
| 定 价 |
25.0000 |
| 作 者 |
张泰昌 编 |
| 开 本 |
32 |
| 书 号 |
7-5025-9146-X |
| 机 号 |
null |
| 装 帧 |
平 |
| 加入日期 |
2006-09-01 00:00:00.0 |
| 点击数：30 |
版 次 |
1版1次 |
| 平板是用于工件检测或划线的平面基准器具，已广泛用于精密制造
和精密测量中。由于在平板上可以完成许多复杂的空间几何测量，具有
快速、准确、简便、经济的优点，因此受到世界各国的重视。
本书内容包括平板的结构性能、技术要求、检定方法、测量器
具、评定原则、数据处理、精度评估和应用实例。
本书采用问答方式，文字简练、通俗易懂，可使读者快速掌握检定
与测量方法，提高平板检测技术水平。
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