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电子显微镜制样设备
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适用于光学显微镜,TEM,SEM样品的样品制备 Leica EM TXP 自动靶面处理机 Leica EM TXP是全新设计的自动靶面处理机,它具备样品切割、靶面研磨、抛光和电镜样品修块等多种功能,并且自动化的产品设计使得以往耗时的靶面处理过程变得简单而快捷。EM TXP一体化整合立体显微镜和LED环形照明系统,除满足常规的SEM、TEM和LM等样品切割后表面抛光和组织修块外,还特别适用于极微小样品的靶面处理。 Leica EM RES101 离子减薄 全计算机控制的多功能离子减薄系统,有高度的灵活性,减薄角度可调由0º至90º ,一体化设计,重复性实验设备,可靠具操作性 ,全电脑控制,精确的参数调整,运行中无需人干涉 ,鞍式离子枪,高能量-快速蚀刻 ,制冷系统,铜传导,确保TEM,SEM在低温下操作 ,主机内置2级泵,确保高真空
适用于光学显微镜,TEM,SEM样品的样品制备 Leica EM TXP 自动靶面处理机 Leica EM TXP是全新设计的自动靶面处理机,它具备样品切割、靶面研磨、抛光和电镜样品修块等多种功能,并且自动化的产品设计使得以往耗时的靶面处理过程变得简单而快捷。EM TXP一体化整合立体显微镜和LED环形照明系统,除满足常规的SEM、TEM和LM等样品切割后表面抛光和组织修块外,还特别适用于极微小样品的靶面处理。 Leica EM RES101 离子减薄 全计算机控制的多功能离子减薄系统,有高度的灵活性,减薄角度可调由0º至90º ,一体化设计,重复性实验设备,可靠具操作性 ,全电脑控制,精确的参数调整,运行中无需人干涉 ,鞍式离子枪,高能量-快速蚀刻 ,制冷系统,铜传导,确保TEM,SEM在低温下操作 ,主机内置2级泵,确保高真空
适用于光学显微镜,TEM,SEM样品的样品制备
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