•  采用专有的分析算法软件模块V2.0A
•  配备品牌电脑
•  配备常用的制样工具
•  配备专用的压片机
•  配备专用的测试样环
•  配备专用的测试硬标样

    2.HA/CIT-3000SM 技术指标：

•  分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
•  元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
•  采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术；
•  测量范围：1－30KeV； 
•  管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；
•  管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；
•  整机功率：50W；
•  整机能量分辨率：150±5eV；
•  检测时间： <200S；
•  工作环境温度：温度0-40℃；
•  工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；
•  测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；
•  一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短；

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