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成都精新粉体测试设备有限公司
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显微镜
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图像分析系统
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物理光学
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密度计
粒度仪
比表面积及孔结构分析仪
JL-1177型 全自动激光粒度仪
产品描述：
测量范围：0.046μm～600μm，不分档，全量程测试。
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JL-1178型 全自动干法激光粒度仪
产品描述：
测量范围：0.046～600μm，不分档，全量程测试。
详细信息
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JX-2000A型 显微颗粒图像分析仪
产品描述：
适用范围： 冶金、电子、陶瓷、等各种粉料颗粒形貌观察及粒度分析。 测试方法： 样品经显微镜放大成像，摄像头摄得颗粒形貌图象，专有软
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JL-1166型 全自动激光粒度仪
产品描述：
测试范围： 0.1μm～268μm
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JX-2000B型 显微颗粒图像分析仪
产品描述：
测试范围： 0.5μm～2000μm
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