| 地 址： |
广州市环市东路371-375号.世界贸易中心大厦南塔2204室 |
| 邮 编： |
510095 |
| 联系人： |
石桂明 |
| 电 话： |
020-87787848，87618986 |
| 传 真： |
020-87784268 |
| 邮 箱： |
jeolgzcn@163.com |
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产品展示 |
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| JEM-2100F FasTEM 场致发射透射电子显微镜(JEOL) |
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| 参考价：面议 (请与事务所联络) |
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产品描述:
超高分辨率高精度分析透射电镜 |
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产品特点:
追求优良像质，提高分析性能而诞生的超高分辨率高精度分析电镜。搭载着电场发射式电子枪，可获得电能范围狭窄的光源，大幅度改善高分辨率图像的反差。能达到比热电子枪高约１００倍的亮度，精确地进行微小范围的X线分析、电子衍射。此外，相干性大的电子束，对全息图像也可使用。 |
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技术指标:
主要规格
点分辨率: 0.19nm
加速电压: 80～200kv
放大率: x50～1,500,000
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