比表面及孔径分析仪分析方法
比表面测定：BET（单点、多点）比表面、Langmuir比表面、外表面测定；
BJH孔径分布测定： 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；
微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）
微孔孔径分布分析：氮分压10-8 - 10-1范围的等温吸附曲线测定，0.35 - 2nm微孔孔径分布测试（HK、FS、NLDFT法）
技术参数
测试方法：低温真空氮吸附容量法，静态容量法
测试气体：高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
极限真空：≤ 10-6 Pa （ 7.5×10-9 Torr）
分压范围：1×10-8 –0.995
控制精度：测试压力点控制最小间隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr） ，测试压力点可多达上千点，多级压力传感器压力测试精度达0.0001Pa （7.5×10-7 Torr）10-8-10-1微孔范围测试压力点高达几百点
测试范围：0.005 M2/g（比表面）—无规定上限，2 —400nm（介孔孔径分析），0.35 - 2nm（微孔孔径分析）
测试精度：重复性误差±1%，0.35-2nm 微孔最可几孔径重复误差 ≤0.01nm
压力测量：采用压力分段测量，进口双压力传感器显著提高P/P0点下的测试精度，0—1000 torr(0—133Kpa）,0——10torr(0—1.33)
样品数量：同时进行1个样品分析和2个样脱气处理
液位控制：确保液氮面也样品管一致，消除了因死体积出现的误差，连续10h不加液氮
测试效率：多点BET比表面每样平均20min
预 处 理： 两样品同位处理，真空低于0.1Pa, 温度50 - 400℃，±1℃
专用软件： BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS、NLDFT等
数据采集：高精度双向数字采集模块，最强的灵活性完成最全面的数据采集，误差小，抗干扰能力强
数据处理：标准的windows窗口界面，易理解、学习、操作，丰富的比表面和孔分析模型，图像分辨率高，易于维护，兼顾到系统后期扩展
质量认证：CE认证、中国计量研究院认证、中国科技部检测报告、国家新产品证书
仪器特点
1、工作站数量可根据用户要求单独设计、制造，可以代替进口；
2、真空度高，比表面和孔径分析的范围更宽，精度更高；
3、国内唯一拥有微孔分布测试的软件技术（HK、FS、NLDFT等）
4、国产比表面积及孔径分析仪唯一通过国家级技术鉴定产品，附产品鉴定证书
5、德国氦质谱检漏仪检测真空系统，确保每台仪器完美的高真空
6、自主知识产权的抽气与充气速度精密控制装置，保证测试点高达1000多点；
7、多途径液氮面控制校正技术，确保样品在冷阱中的深度及环境一致,消除因死体积变化导致的误差
8、具有独立，不易损坏的不锈钢杜瓦瓶，安全可靠，保温效果极佳
9、无需氦气降低测试成本（一瓶氦气2000元）
10、完善的标准等温线数据库和规范的分析方法，BJH、t-Plot、MP、D-R微孔常规测试技术国内领先
11、可编程控制电路，高精度双向数字采集模块，测试全程自动化、智能化，长时间运行可以无人职守 |
