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公司名称:
上海晶众机电科技有限公司
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参考价格:
未标明
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发布时间:
2009-05-27
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产品描述: |
晶众公司代理经销用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过20年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术。 |
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XDL, XULX射线荧光镀层测厚和材质分析仪的详细介绍
典型的应用范围如下:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
最多24种镀层(使用WinFTM® V.6软件)。
分析可多达24种元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
所有的设备遵循ASTM B568, DIN 60 987和 ISO 3497等国家和国际标准。
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