wi69195X荧光测厚光谱仪的详细介绍
注:图片及文字介绍仅供参考,请以实物为准元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 一次可同时分析最多24个元素,五层镀层。分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。分析含量一般为2ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1% 长期工作稳定性可达0.1% 度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm 重量:90 kg 标准配置 开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。 X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机 应用领域 黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
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