仪器简介： 1）系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜，成像清晰、像面平坦 2）配备反射式柯拉照明系统，为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明 3）正像三通观察筒，25°倾斜，极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性 4）配备了6”带离合器机械平台，行程158*158mm，可快速移动 5）最佳人机学设计，高刚性镜臂，“Y”型底座，调焦机构采用前置式操作控制，粗微调同轴 www.winstrument.cn 6）光源采用宽电压数字调光技术，具有光强设定与复位功能 7）可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件，拓展应用领域 主要特点：主要用于半导体硅晶片检测、LCD液晶屏检测、实验室材料分析及其他精密工程检测领域，可对样品进行明场、暗场及简易偏光观察。www.winstrument.cn