用途;
在光学冷加工中用于检验球面和非球面的质量
测定光学零件或光学系统的像差,如球差、像散等
测定凹球面的曲率半径
检验光学材料中的缺陷,如条纹,不均匀性等
光学系统的检验和装配,用它检验各种非球面及大口径的球面和平面
技术指标:
相对孔径:D/F=1:2
小孔直径:0.03,0.06,0.08,0.2,0.5,1mm
狭 缝 宽:0.05,0.15mm
仪器重量:2KG
粗调升降:70mm
微调升降:15mm
移 动 量:纵向横向各15mm
读 书 值:0.01mm
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