【伯东公司供应】离子分析质谱仪 离子分析
外部产生的离子,例如等离子体产生的离子的分析。在此过程中离子光学器件替代了离子源使用。
次级离子质谱仪
SIMS(二次离子质谱仪)是一项经证明可靠成熟的表面分析技术。它可用作独立测量方法,也与其它表面分析方法连用,如SCA(化学分析用电子光谱法)和AES(俄歇电子能谱法)。SIMS具有高的灵敏度和能检测对分析结果又决定性作用的同位数,因此,SIMS常被选用。
需要进一步了解请联系Website: http://www.hakuto-vacuum.cn
质量数范围
1-340
1-512
1-1024
检测极限
用于正粒子
cps
0.1
用于负粒子
10
动态范围
107
105
工作压力,最大
mbar
1.10-5
分析仪
QMA 410
QMA 400
测杆系统,直径/长度
mm
Mo/16/300
Mo/8/200
90°偏轴SEM
SEM 217
离子光学镜,配有电子束止挡、绝缘的
3透镜
高压电源
HV421
RF发生器
QMH 410-3
QMH 400-5
QMH 410-1
离子计数器前置放大器
CP 400
离子计数器
IC/AO 421
工作温度/分析仪
。C
150
连接法兰
DN 100 DF-F
DN 63 DF-F
留下您的询价信息和联系方式,展商会与您取得联系!*号必须填