联系我们
|
地 址:广州市环市东路371-375号.世界贸易中心大厦南塔2204室 |
邮 编:510095 |
联系人:石桂明 |
电 话:020-87787848,87618986 |
传 真:020-87784268 |
邮 箱:jeolgzcn@163.com |
|
|
|
|
|
JEM-2100F FasTEM场致发射透射电子显微镜(JEOL)
|
|
公司名称:
日本电子株式会社广州事务所
|
参考价格:
0
元
|
发布时间:
2011-01-12
|
产品描述: |
场致发射透射电子显微镜(JEOL)
超高分辨率高精度分析透射电镜 |
|
|
|
|
|
JEM-2100F FasTEM场致发射透射电子显微镜(JEOL)的详细介绍
场致发射透射电子显微镜(JEOL)
主要规格
点分辨率: 0.19nm
加速电压: 80~200kv
放大率: x50~1,500,000
|
|
|
|