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  上海长方光学仪器有限公司  

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XPN-203E偏光熔点仪,偏光显微镜加热台,偏光显微熔点测定仪,偏光显微分析仪

公司名称: 上海长方光学仪器有限公司
参考价格: 18000
发布时间: 2004-08-09
产品描述:
用途: XPM-203型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化,该仪器采用微电脑检测,有自动P、I、D调节,及模糊手动调节功能,通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定,对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据,设有“上、下”限自动报警装置,并可随时检查设定的温度数据,是新一代熔点测温,控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件,是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。(更多型号,请参考网站:http://www.chfang.com)
XPN-203E偏光熔点仪,偏光显微镜加热台,偏光显微熔点测定仪,偏光显微分析仪的详细介绍
技术参数 
 名称 
1.总放大倍数:40X---1600X 
物镜:4X,10X,25X,40X,63X
目镜:10X(十字目镜), 10X(分划目镜) 
试片:石膏1λ试片,云母1/4λ试片,石英楔子试片 
测微尺:0.01mm 
滤色片:蓝色,带座目镜网络尺 
移动尺:移动范围30mm×40mm 
镜筒:三目观察 (可接数码相机)
2.热台组成
 在 20倍物镜下工作温度可达到最高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定, 30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数
 
显微加热平台:可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1、起始温度室温、工作区加热使用面积至少 1X1厘米、工作区温度梯度不超过 ± 0.1、透光区域 2mm以上,可调、显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2、热台可以随载物台移动、在加热状态下最高可使用 20倍物镜
 
仪器的扩展性
  本仪器可以与电视机、计算机、数码相机、监视器以及高校里的视频展台、投影仪等多媒体设备。(更多型号,请参考网站:http://www.chfang.com  电话:021-68552328)
 
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