Contour GT K1布鲁克白光干涉仪Contour GT的详细介绍
利用超过业界最大视野最高垂直分辨率，达到无与伦比的测量性能
■ 从0.5倍到200倍的放大率能够表示大范围样品表面形状与结构特征
■ 任意放大率下亚埃米到毫米垂直范围能提供无与伦比的测量灵活性
■ 高分辨率相机选项提高横向分辨率，增加R&R测量性能
运用Vision64™软件的64-Bit, 多核处理器可加速3D表面测量和分析
■ 最新型结构产量功能可大幅增加应用数据处理能力
■ 运用多核优化和其他技术的并行处理功能，可以提供高达10倍的判断性计量分析输出量
■ 无与伦比的拼接性能无间断地将大量单独数据综合设置成一个连续图像
生产环境中提高可靠性和可重复性的独特计量硬件
■ 超高亮度LED专利双源照明系统提供卓越的测量质量放大率挠度
■ 优化硬件设计可提供震动偏差R&R测量
■ 选择模式中专利自动化自校准功能可获得工具间相关性和测量准确可靠性
高度直观用户平台，拥有最一流易用性，自动化和分析能力
■ 简易高效用户界面简化测量与数据采集操作，提高人机工作效率
■ 独特可视工作流程工具可直观获得过滤和分析选项扩展库
■ 为客户具体要求设置客户报告提炼分析数据功能
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