NPFLEX3D显微镜超大样品台布鲁克NPFLEX的详细介绍
1．非接触式光学测量方式，对样品表面无损伤。
2．测试时间短， 垂直方向上可达亚纳米级分辨率。
3．快速、准确测量多个样品 ，实现高速材料表面表征。
4．广泛的应用领域，样品的反射率从0.1%至100%均可测量。
5．操作非常简单。
6．高分辩、高速测量、高重复性、高可靠性的完美结合
7．功能强大、行业领先的专业分析软件：
a) 台阶高度
b) 表面粗糙度
c) 多区域测量
d) 弯曲测量
e) 角度测量
f) 厚膜分析软件包－适用透明、半透明厚膜厚度及膜表面粗糙度分析
g) 光学软件包－应用于光学级表面表征
h) 数据存储制造业软件包－适用于硬盘部件的测量检测
8．可测量各种复杂形状样品。
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