Fischer-无损膜厚仪是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,保证样品的完整性,减少不必要的浪费,并且先进的FP数字计算法,对测量数据进行精确的计算,确保测量数据的准确性.采用FP法及高度数比例接收器，测量结果精确。固定或可编程的开槽式样品平台可以测量大体积各形状的工件样品。面对复杂的电镀层，如单一镀层，二元合金镀层，三元合金镀层，双镀层，双镀层其中一层为合金镀层这些复杂的电镀层厚度检测，无损膜厚仪都能够准确快速的检测分析出结果，多项专利技术，在线路板镀金、五金镀镍镀铬镀锌镀银等领域中，占有80%的市场份额。是全球最大最专业的膜厚检测专家，六十多年的检测技术积累，多项专利技术，德国一流原厂生产品质，是全球客户的首选测厚仪器。

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