BA100电镀层膜厚测量仪的详细介绍
电镀层膜厚测量仪由于X光测厚仪是在线测量仪表,检测的厚度是钢板热态时的厚度,这样会和冷态时的厚度有一定的偏差,所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时,也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测,计算出合金补偿系数,也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。
电镀层膜厚测量仪是利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
电镀层膜厚测量仪采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置,X射线源和最新数字半导体接收器置于了 BA100 的底部,从而可以采用射线向上的测量技术。
电镀层膜厚测量仪可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。
电镀层膜厚测量仪产品特点:
可检测元素范围:AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.结合了大功率X射线管和高分辨率半导体探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。
电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。
探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。
有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。
您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。
一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。
大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
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