镀金膜厚测试仪由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。
镀金膜厚测试仪是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
镀金膜厚测试仪采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和最新数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
镀金膜厚测试仪可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。

镀金膜厚测试仪* 技术指标型号：元素分析范围从铝（AL)到铀（U）。
* 一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。镀层厚度最薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。
* 小孔准直器（最小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸：450mm*450mm
* 重量：32 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* 最新半导体探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。
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