401LED测量仪的详细介绍
此套系统使用的是扫描（scanning)式的光谱仪，解析度高，量测稳定。为了满足使用者多样的需求，提供了不同的测度项目，包括了IV，（X，Y），λd，λp，TC，CRI，FWHM，IP，VF，IR，IF，VF与THY。它也能测量不同形式的LED，例如LED CHIP，SMD，LAMP，MODULE，LED DISPLAY。
测试项目及规格：
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量测项目
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规格
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Reverse Current(逆向电流) (IF)
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0-1,00uA
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Reverse basic voltage（逆向电压）(Vf)
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0-50Vprogrammable
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Forward Current(顺向电流) (IF)
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0.1-1000mA
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Forward basic voltage(顺向电压 )(Vf)
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0-20Vprogrammable
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Peak Wavelength(尖峰波长)(λp)
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350-1050nm
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Luminance intensity(光强度)
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0-50,000mcd
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Radiance intensity (辐射强度)
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0-5000mW/sr
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Color Temperature(色温)
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1000-20,000K
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Dominant Wavelength(主波長) (λd)
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400-700nm
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Chromaticity coordiantes(色度坐标)
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CIE (x,y)
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Correlated Color temperature (相对色温)
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CCT,1,000-100,000K
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Purtiy(纯度)
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100%
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FWHM(半寛波长)
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0-200nm
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Center Wavelength(中心波长)
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350-1050nm
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Centroid Wavelength(重心波长)
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350-1050nm
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CRI(演色指数)
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0-100%
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适用范围：
*LED晶片厂研发部及品管部，LED封装厂研发部及品管部，LED来料检验
*精准度到小数点3位小数，同样提供全光谱、色温、色度、波长、CRI及光强度等全功自控制，达到需要的待测物各种光参数的量测，可用于对日常进料、检验LED及分类；
系统特色：
*全自动化量测设计，操作介面简单
*使用者可自行与标准样品校正，无须负担庞大的校正费用
*软体可配合使用者的习惯或需要做部分修改；
*可产生各种使用者所需单色光谱光源及功率
*采用CIE 1931, 和CIE1976 U.C.S標準及演等方法
系统硬件：
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型号
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规格
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光谱仪
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ARC SP-150,400-1100nm,解析度0.1nm
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积分球
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ISP-050,50mm积分球
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电源供应器
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Keithley#2400
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optimum system controller
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Windows系统自动控制操作程式 software driver,desktop pcg LCD monitor console软体规格为 Visual Basic 6.0开发 ,相容Windows 98以上版本
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optical components
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侦测器,三色光源,光源箱,光纤及其他光学配件
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测试画面：
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