MPS微量分析空气颗粒物的详细介绍
多级显微分析空气颗粒物采样器专为扫描电镜SEM、能量色散X射线光谱分析EDXS和其他显微分析技术采集样品而设计的。采样器拥有嵌入撞击级的标准电子显微采样托盘（专利），采样后可将采样托盘直接插入显微镜进行分析，无需样品前处理，减少分析费用。
此外，样品收集在小的集中点，分析时很容易定位在高浓度地方。并且可选择不同类型的基片材料用于各种显微技术，如：X射线荧光分析XRF、投射电镜TEM、傅里叶变换红外光谱FTIR、气相色谱/质谱GC/MS。
应用领域
- 半导体、制药、航空航天等高精密制造工业污染控制
- 无尘室颗粒物污染分析
- 电脑硬盘颗粒物采样
- 环境空气、高层大气颗粒物分析
MPS-4G1型 4级无尘室显微颗粒物/气溶胶采样器
1.采集颗粒物粒径切割点低至0.05um
2.流速：7lpm
3. 气泵
4. 用于采集无尘室、颗粒物低浓度环境场合
MPS-3型 3级显微颗粒物/气溶胶采样器
1.流速：2slpm
2. 采集颗粒物粒径切割点低至0.05um
3. 气泵
4. 用于电脑硬盘、环境空气等颗粒物/气溶胶采样
5. 采样器袖珍便携
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