1. 光学系统 OPTICAL SYSTEM

v 多块高性能CCD检测器系统，根据应用需要最多达16块CCD检测器

v 每块CCD 3,648 像素

v 58,368 像素的分辨率(16 x 3,648 像素)

v 高性能全息衍射光栅，光栅刻线1200 或 2700 或 3600 条/mm

v 温度稳定系统

v 采用特殊材料应对漂移

v 焦距：500 mm

v 谱线波长：140 - 800 nm由衍射光栅的选择决定。光栅的选择由制造商根据分析元素和分析程序来决定

v 全光学系统自动描迹

v 密闭的真空光学室可以避免灰尘、光线的干扰

2. 谱线OPTICAL LINES

v SCP覆盖了全元素分析范围，可根据具体需要分析相应的元素

v 光学系统包括固态检测器能够测量样品所发出的全谱

v 并且为将来可能的升级，增加分析线（元素）方便

v 可现场增加分析程序

3. 控制、电子采集和数据读出系统CONTROL, ACQUISITION ELECTRONICS and READ OUT

v 电子系统具有微处理器控制的多通道积分和数据系统采集功能

v 高速16位模数转换器

v ISP混合信号Flash微控制器100MHz

v 多种连接源

v 高速读出及高速USB借口支持快速数据控制与处理系统

v 最多16块CCD模块，由制造商根据应用情况选择

4. 火花源SPARK SOURCE

v 全自动控制火花源

v 半导体控制放电激发

v 1 到 100 A等离子体电流

v 放电参数由密码保护

v 特别的分析要求可有不同的激发参数

v 火花光源放电稳定，不受供电系统波动的影响

v 激发参数由激发线和分析程序标定和控制

v 火花源可有多种参数设置

v 火花频率: 200 到 to 1000 Hz (可控)

v 火花持续时间 10-10000 us (可控)

5. 火花台SPARK STAND

v 开放式的火花台可以分析测试重达20Kg的各种形状的样品

v 电极易于拆卸维护

v 氩气吹扫火花台，低氩气消耗

v 使用便捷的样品夹支持快速样品更换

v 不同样品的适配器可满足各种样品的需求（可选）