X射线荧光光谱仪(JEOL)
最小分析50微米φ领域的微小领域用EDXRF装置JSX-3600

X射线荧光光谱仪(JEOL)
1)  本公司开发了微小领域专用的EDXRF装置JSX-3600"Yuki"。 
2)  这装置是谁也能简单地进行最小50μmφ领域元素分析的能源分散式荧光Ｘ射线分析装置(EDXRF)。 
3)  测量元素范围从Na到U，无论是定性分析，还可以进行无标准试样的定量分析和薄膜的膜厚度测量(选择)。 
4)  配有自动准直仪更换、表焦距式CCD照相机、全自动X/Y/Z试样台、自动聚焦机构(选择)等，只在显示器上指定(可多点)测量地方，能自动地定位，进行测量和分析。 
5)  在食品和化妆物品等的异物分析和考古学试样的分析，塑料中有害的重金属元素的分析，以及对电子零部件、细微加工物品的原材料和膜涂层厚度分析等宽广领域被利用。